CITE2023第十一屆中國(guó)電子信息博覽會(huì)完美收官

本次展會(huì)，置富科技重點(diǎn)展示了閃存芯片智能測(cè)試系統(tǒng)-實(shí)驗(yàn)版（FT-N016W）、便攜式-專業(yè)版（FT-N008B）、eMMC智能測(cè)試系統(tǒng)以及國(guó)產(chǎn)化固態(tài)存儲(chǔ)產(chǎn)品，吸引了不少專業(yè)觀眾前來交流探討，尋找合作契機(jī)。尤其是對(duì)于置富自主研發(fā)的閃存壽命預(yù)測(cè)技術(shù)，引發(fā)了大家深刻的探討，受到廣泛關(guān)注。該技術(shù)通過長(zhǎng)時(shí)間大量數(shù)據(jù)積累分析和模擬，創(chuàng)新地將人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法應(yīng)用于Flash顆粒測(cè)試技術(shù)中，在非破壞性的閃存測(cè)試方式下，預(yù)測(cè)閃存芯片block的剩余耐寫次數(shù)和質(zhì)量等級(jí)。對(duì)閃存芯片的可靠性做快速有效的篩選，從而提升存儲(chǔ)器的可靠性和使用壽命，為企業(yè)降本增效。

閃存智能分級(jí)   助力產(chǎn)業(yè)發(fā)展

展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)，置富閃存芯片智能測(cè)試系統(tǒng)-實(shí)驗(yàn)版（FT-N016W）也備受矚目，眾多存儲(chǔ)行業(yè)客戶與工程師深入探討閃存測(cè)試的必要性以及測(cè)試設(shè)備功能，可以為客戶解決的痛點(diǎn)等問題。該設(shè)備是一種可以量身定制測(cè)試方案的綜合閃存測(cè)試系統(tǒng)，系統(tǒng)并行測(cè)試閃存顆粒數(shù)量最多可達(dá)16顆，可支持多種測(cè)試pattern及自定義測(cè)試參數(shù)功能，提供一鍵式基礎(chǔ)測(cè)試流程、高靈活性的實(shí)驗(yàn)測(cè)試及高階測(cè)試流程，可以實(shí)現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預(yù)測(cè)、實(shí)測(cè)、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測(cè)試，幫助用戶檢驗(yàn)閃存顆粒的可靠性狀態(tài)，完成測(cè)試后可以方便快捷地一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告，為用戶提供最直觀的圖形化測(cè)試數(shù)據(jù)，為閃存顆粒等級(jí)分類和應(yīng)用提供最精確的參考依據(jù)，并基于閃存顆粒品質(zhì)檢測(cè)結(jié)果實(shí)現(xiàn)智能分級(jí)，可以為高級(jí)工程師閃存質(zhì)量分析、科研單位閃存質(zhì)量研究提供有效助力，為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供可靠的測(cè)試工具。

此外，置富科技還有針對(duì)量產(chǎn)型測(cè)試的閃存測(cè)試設(shè)備：生產(chǎn)版（FT-N240）、科研版（FT-N200）、寬溫版（FT-N240B）、卓越版（FT-N512），可提供寬溫測(cè)試環(huán)境，并行測(cè)試閃存顆粒種類最多達(dá)64種，并行測(cè)試閃存顆粒數(shù)量最多達(dá)512顆，可以大大提高閃存芯片的鑒定能力和檢測(cè)效率，滿足存儲(chǔ)廠商和大型檢測(cè)中心的測(cè)試需求，為高端領(lǐng)域應(yīng)用提供了可靠的存儲(chǔ)質(zhì)量保障。

置富科技以閃存智能測(cè)試和分級(jí)篩選為核心，逐步形成以芯片測(cè)試、方案應(yīng)用、產(chǎn)品銷售為一體的全產(chǎn)業(yè)鏈企業(yè)，參與本次展會(huì)也是為了響應(yīng)市場(chǎng)需求，協(xié)同上下游產(chǎn)業(yè)鏈，共同推動(dòng)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量可持續(xù)發(fā)展。